飞秒 X 射线激光诱导富勒烯 C60 瞬态电子相变的观测
材料科学
2012-09-25 v1 光学
摘要
X 射线自由电子激光 (XFELs) 提供的 X 射线脉冲具有相干通量，其量级比现代第三代同步辐射光源高出约八个数量级。XFEL 脉冲中的功率密度可能极高，以至于能在飞秒时间尺度上改变样品的电子性质。探索强相干 X 射线脉冲与物质的相互作用既具有内在的科学意义，对于解释利用高亮度飞秒 XFEL 脉冲探测材料结构的实验也至关重要。在本文中，我们报告了关于极高通量的 32 fs 纳米聚焦 X 射线脉冲被结晶 C60 粉末样品衍射的观测结果。我们发现，在最高可用入射功率下，衍射图样显示出显著的结构特征，而这些特征在第三代同步辐射光源或低输出功率 XFEL 光源获得的数据中均不存在。这些特征与一种高度有序的结构一致，该结构不对应于任何先前已知的结晶 C60 相。我们认为，这些数据表明形成了一种瞬态相，该相是由每个 C60 分子中至少一个碳原子的内壳层电离引起的动态电子畸变所形成的。
引用
@article{arxiv.1209.5168,
title = {Femtosecond X-ray Laser induced transient electronic phase change observed in fullerene C60},
author = {Brian Abbey and Ruben A. Dilanian and Connie Darmanin and Rebecca A. Ryan and Corey T. Putkunz and Andrew V. Martin and Victor Streltsov and Michael W. M. Jones and Naylyn Gaffney and Felix Hofmann and Garth J. Williams and Sebastian Boutet and Marc Messerschmidt and M. Marvin Siebert and Sophie Williams and Evan Curwood and Eugeniu Balaur and Andrew G. Peele and Keith A. Nugent and Harry M. Quiney},
journal= {arXiv preprint arXiv:1209.5168},
year = {2012}
}
备注
9 pages, 3 figures