厚硅传感器中视差效应对协同衍射成像的影响

结构 determination 是 XFEL 和第四代同步辐射源的关键应用，尤其是使用来自 X 射线自由电子激光器（XFEL）的协同脉冲 X 射线。科学界关注的是在纳米尺度上了解样品的物理、生物和化学性质。XFEL 的 X 射线使得可实现协同 X 射线衍射成像（CXDI），其中协同 X 射线照射样品，远场衍射图样被成像探测器捕获。就其本质而言，CXDI 技术探测样品的分辨率受 X 射线辐射波长和探测器在非常大散射角上记录衍射图样的曝光时间限制。在实际实验条件下可实现的分辨率强烈取决于额外参数。与探测器分辨率相关的 Shannon 像素大小、样品在不改变其结构的情况下可沉积的相干剂量、图像对比度以及在高 $q$（即高散射角 $2\Theta$）处检测到的散射辐射信噪比对分辨率影响很大。在高 $q$ 处的信噪比定义了特定实验 setup 中探测器可有效检测信号的“有效”最大固体角，从而决定可实现的分辨率。图像对比度定义了亮图像特征与暗图像特征的可区分性。我们 presented of our study on the influence of the PSF on SNR、image contrast、position resolution and achievable sample resolution for different pixel sizes 的初步结果。