单粒子X射线成像实验中超快电子损伤的影响
原子与分子团簇
2013-01-29 v1 原子物理
摘要
在X射线自由电子激光器 (XFEL) 上进行的单粒子相干X射线衍射成像实验中，样品暴露于强X射线脉冲以获得单发衍射图样。高强度在飞秒时间尺度上诱导系统内的电子动力学，这会降低所得衍射图样的对比度并增加各向同性背景。我们通过对暴露于不同参数X射线脉冲的生物样品进行模拟，量化了超快电子损伤对衍射图样的退化。我们发现，只有当几乎所有电子从其母原子中被移除时，对比度才会大幅降低且背景才会相当强。这发生在比目前可用的XFEL源提供的通量至少高一个数量级的通量下。
引用
@article{arxiv.1206.6960,
title = {Impact of ultrafast electronic damage in single particle x-ray imaging experiments},
author = {U. Lorenz and N. M. Kabachnik and E. Weckert and I. A. Vartanyants},
journal= {arXiv preprint arXiv:1206.6960},
year = {2013}
}
备注
15 pages, 3 figures submitted to PRL