通过共振非弹性 X 射线散射绘制温稠密镍的电子结构
等离子体物理
2020-11-11 v2
摘要
高亮度自由电子激光(FEL)的发展彻底改变了我们产生和研究高能量密度(HED)状态下物质的能力。当前的诊断技术在获取基本热力学等离子体性质信息方面非常成功，但仅能提供关于这些系统详细量子结构及其受电离动力学影响的有限或间接信息。本文展示如何利用直线加速器相干光源 FEL，通过共振(拉曼)非弹性 X 射线散射(RIXS)研究在飞秒时间尺度加热至数十 eV 温度的固体密度镍的电子结构。我们给出了 X 射线加热瞬态系统中价态电子态密度的单发测量，并同时提取电子温度、电离度和电离势能。RIXS 谱提供了关于 HED 系统价带结构的丰富信息，超越了单独从 X 射线吸收或发射谱中可提取的内容。
引用
@article{arxiv.2001.05813,
title = {Mapping the Electronic Structure of Warm Dense Nickel via Resonant Inelastic X-ray Scattering},
author = {O. S. Humphries and R. S. Marjoribanks and Q. van den Berg and E. C. Galtier and M. F. Kasim and H. J. Lee and A. J. F. Miscampbell and B. Nagler and R. Royle and J. S. Wark and S. M. Vinko},
journal= {arXiv preprint arXiv:2001.05813},
year = {2020}
}