利用光电子能谱测量共振非弹性X射线散射：一项计算研究
材料科学
2020-06-22 v1 数据分析、统计与概率
摘要
共振非弹性X射线散射（RIXS）已成为重要的科学工具。然而，传统的高分辨率RIXS测量（<100 meV），尤其在软X射线范围内，需要庞大且低通量的光栅光谱仪，限制了测量精度与简便性。在此，我们计算研究了一种测量RIXS的不同方法——用于X射线分析的光电子能谱法（PAX）的性能。该方法将RIXS的X射线测量问题转化为电子测量问题，从而可使用紧凑、高通量的电子光谱仪。在PAX中，待测X射线入射到转换材料上，并用电子光谱仪测量所得光电子的能量分布（即PAX谱）。随后通过利用机器学习概念的去卷积算法估算入射X射线谱。我们研究了若干PAX示例。以Ag的3d能级作为转换材料，在检测到10个电子时，我们准确估算了模型RIXS谱中宽度为数百meV的特征。利用尖锐费米边编码RIXS谱，在检测到10个从费米能级0.4 eV内光发射的电子时，我们准确区分了相隔45 meV、半高宽为100 meV的峰。
引用
@article{arxiv.2006.10914,
title = {Using photoelectron spectroscopy to measure resonant inelastic X-ray scattering: A computational investigation},
author = {Daniel J. Higley and Hirohito Ogasawara and Sioan Zohar and Georgi L. Dakovski},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.10914},
year = {2020}
}