基于石英平面晶体的亚 10 meV 能量分辨率共振非弹性 X 射线散射谱仪
仪器与探测器
2017-09-11 v1 强关联电子
摘要
共振非弹性 X 射线散射（RIXS）谱仪能量分辨率的持续改进对于发挥该技术在研究具有基础和技术重要性的材料中的电子动力学方面的潜力至关重要。特别是，RIXS 是除非弹性中子散射外唯一能够提供磁材料动态自旋结构的完全动量分辨信息的替代工具，但仅限于磁激发能量尺度与能量分辨率相当的系统。最先进的球面切割晶体分析器光学器件提供高达 25 meV 的能量分辨率，但已达到其理论极限。在此，我们展示了一种基于平面晶体光学器件在 Ir-L 吸收边（11.215 keV）的新型亚 10 meV RIXS 谱仪，其分析器能量分辨率达到 3.9meV，非常接近 3.7meV 的理论值。此外，新谱仪允许有效的偏振分析而不损失能量分辨率。该仪器的性能通过金刚石中的纵向声学声子和光学声子以及 SrIrO 中的磁子得以展示。因此，这种新型亚 10meV RIXS 谱仪为研究具有小能量尺度的磁材料提供了窗口。
引用
@article{arxiv.1709.02777,
title = {Quartz-based flat-crystal resonant inelastic x-ray scattering spectrometer with sub-10 meV energy resolution},
author = {Jungho Kim and D. Casa and Ayman Said and Richard Krakora and B. J. Kim and Elina Kasman and Xianrong Huang and T. Gog},
journal= {arXiv preprint arXiv:1709.02777},
year = {2017}
}