在铜K边具有25 meV分辨率的共振非弹性X射线散射谱仪
仪器与探测器
2015-07-09 v1 材料科学
摘要
报道了在铜K边使用非弹性X射线散射仪器获得的无与伦比的分辨率。基于分段凹面分析器，采用单晶石英(SiO_{2})像素，该谱仪在8981 eV处提供接近25 meV（半高全宽）的分辨率。除了石英分析器，谱仪的性能还依赖于四跳Si(553)高分辨率单色器和聚焦Kirkpatrick-Baez光学系统。实测分辨率与理想谱仪的射线追踪模拟一致。我们通过再现铍(Be)单晶的声子色散曲线展示了谱仪的性能。
引用
@article{arxiv.1412.4484,
title = {Resonant inelastic x-ray scattering spectrometer with 25 meV resolution at Cu K-edge},
author = {Didem Ketenoglu and Manuel Harder and Konstantin Klementiev and Mary Upton and Mehran Taherkhani and Manfred Spiwek and Frank-Uwe Dill and Hans-Christian Wille and Hasan Yavaş},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.4484},
year = {2015}
}