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用于种子自由电子激光中频率和波数分辨 X 射线散射的弯曲晶体光谱仪

等离子体物理 2015-06-22 v1

摘要

我们展示了一种圆柱形弯曲的 GaAs X 射线光谱仪,其能量分辨率为 ΔE/E=1.1104\Delta E/E = 1.1\cdot 10^{-4},波数分辨率为 Δk/k=3103\Delta k/k = 3\cdot 10^{-3},能够在 Linac Coherent Light Source (LCLS) X 射线自由电子激光的分辨率极限下进行等离激元散射测量。它在 100 个独立的 bin 中覆盖了 3.6 至 5.2/5.2/\AA\ 的散射波数范围,波数模糊度仅为 0.34\%。0.418~eV/13.5μ13.5\,\mum 的色散与预测值吻合度在 1.3\% 以内。测量了整个波数范围内的反射均匀性,并用于归一化散射谱的振幅。当能量分辨率需要与 LCLS 种子带宽 1~eV 相当且必须在一次曝光中覆盖显著的波数范围时,所提出的光谱仪优于马赛克 HAPG 光谱仪。

关键词

引用

@article{arxiv.1407.7489,
  title  = {Bent crystal spectrometer for both frequency and wavenumber resolved x-ray scattering at a seeded free-electron laser},
  author = {Ulf Zastrau and Luke B. Fletcher and Eckhart Foerster and Eric Ch. Galtier and Eliseo Gamboa and Siegfried H. Glenzer and Philipp Heimann and Heike Marschner and Bob Nagler and Andreas Schropp and Ortrud Wehrhan and Hae Ja Lee},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1407.7489},
  year   = {2015}
}