基于飞秒 X 射线漫散射的亚毫电子伏分辨率声子谱学
材料科学
2015-08-19 v1
摘要
我们展示了利用 Linac Coherent Light Source 的飞秒时间分辨 X 射线漫散射测量重建锗的横声学声子色散关系。我们使用带宽为约 1 eV 的 10 keV X 射线，展示了 0.3 meV 的能量分辨率和 0.01 nm^-1 的动量分辨率。这一高分辨率是在包括紧密沿三条主对称方向区域的广大倒易空间区域上同时实现的。声子色散关系在少于三小时的测量时间内重建完成，期间未扫描 X 射线能量、样品取向或探测器位置。这些结果展示了时间域测量如何补充传统的频率域非弹性散射技术。
引用
@article{arxiv.1504.06655,
title = {Phonon Spectroscopy with Sub-meV Resolution by Femtosecond X-ray Diffuse Scattering},
author = {Diling Zhu and Aymeric Robert and Tom Henighan and Henrik T. Lemke and Matthieu Chollet and J. Michael Glownia and David A. Reis and Mariano Trigo},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.06655},
year = {2015}
}
备注
3 figures, 4 pages