用于 X 射线自由电子激光脉冲的弯晶谱仪分辨率：金刚石与硅之比较
仪器与探测器
2020-09-21 v1 材料科学
光学
摘要
评估了基于强弯曲单晶（弯曲半径 10 cm 或更小）的谱仪的分辨率函数。结果表明，分辨率由两个参数控制：（i）所选反射的晶格间距与晶体厚度之比，以及（ii）一个包含晶体厚度、其弯曲半径和所选晶体各向异性弹性常数的单一参数。金刚石因其独特的弹性性质，可提供比硅明显更高的分辨率。该结果可用于优化硬 X 射线自由电子激光源的弯晶谱仪参数。
引用
@article{arxiv.2009.08818,
title = {Resolution of a bent-crystal spectrometer for X-ray free electron laser pulses: diamond vs. silicon},
author = {Vladimir Kaganer and Ilia Petrov and Liubov Samoylova},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.08818},
year = {2020}
}