拓扑半金属 FeSi 中的共振非弹性 X 射线散射
强关联电子
2024-12-25 v2
摘要
拓扑半金属的能量谱在倒易空间中含有受保护的简并,对应于 Weyl、Dirac 或多重简并费米子态。要利用这些态的非常规性质,必须触及三维块体的电子结构。本工作中,我们展示了首个候选拓扑半金属电子结构的共振非弹性 X 射线散射(RIXS)理论与实验联合研究。我们利用 Fe 边的动量依赖 RIXS 解析了 FeSi 的块体电子态。我们观测到缺乏尖锐特征的宽激发连续谱,与底层电子能带结构中的粒子-空穴散射一致。利用密度泛函理论(DFT),我们计算了 FeSi 的电子结构,并推导了快碰撞近似下 RIXS 的能带理论表述,以零可调参数对散射过程建模。尽管能带理论预言了与观测相似的宽谱特征激发连续谱,理论与实验的偏差暗示存在 DFT 单独无法解释的低能过程。这一拓扑半金属中 RIXS 的首次研究表明,RIXS 是揭示该类材料块体电子态中意料之外行为的有效工具。
引用
@article{arxiv.2301.02677,
title = {Resonant inelastic X-ray scattering in the topological semimetal FeSi},
author = {Yao Shen and Anirudh Chandrasekaran and Jennifer Sears and Tiantian Zhang and Xin Han and Youguo Shi and Jiemin Li and Jonathan Pelliciari and Valentina Bisogni and Mark P. M. Dean and Stefanos Kourtis},
journal= {arXiv preprint arXiv:2301.02677},
year = {2024}
}
备注
v2: published version