衍射型X射线波导揭示共轭聚合物薄膜中正交结晶分层
应用物理
2018-05-24 v1
摘要
薄膜内结晶结构的深度依赖性对许多技术应用至关重要，但使用常规技术一直无法直接测量。在这项工作中，通过监测衍射峰强度和位置，并利用掠入射附近X射线高度角度依赖的波导效应，我们定量测量了高性能半导体聚合物薄膜内分层结晶层的厚度、粗糙度和取向。特别地，这种衍射型X射线波导揭示了一个自组织的5纳米厚结晶表面层，其结晶取向与下方65纳米厚层正交。虽然针对有机半导体薄膜进行了演示，但该方法适用于任何分层结晶结构和取向可能影响电荷注入和场效应传输等重要界面过程的薄膜材料体系。
引用
@article{arxiv.1805.09183,
title = {Diffractive X-ray waveguiding reveals orthogonal crystalline stratification in conjugated polymer thin films},
author = {Eliot Gann and Mario Caironi and Yong-Young Noh and Yun-Hi Kim and Christopher R. McNeill},
journal= {arXiv preprint arXiv:1805.09183},
year = {2018}
}