变形晶体中扩展缺陷的 X 射线线形分析验证
材料科学
2022-03-28 v1
摘要
晶体材料中扩展缺陷的定量测量对理解材料行为十分重要。X 射线线形分析补充了电子显微镜中的直接计数，但为一种间接方法且需要验证。以往研究聚焦于将 X 射线分析与电子显微镜结果比较。相反，我们使用具有已知缺陷含量的模拟缺陷材料，并将线形分析应用于计算得到的衍射轮廓，以直接表明线形分析能够可靠量化位错与层错。
引用
@article{arxiv.2203.13636,
title = {Validation of x-ray line-profile analysis of extended defects in deformed crystals},
author = {C P Race and T Ungar and G Ribarik},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.13636},
year = {2022}
}