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利用线性吸收光谱测定聚噻吩薄膜中的激子带宽和薄膜微观结构

材料科学 2010-04-30 v1

作者: Jenny Clark , Jui-Fen Chang , Frank C. Spano , Richard H. Friend , Carlos Silva

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摘要

我们分析了从多种溶剂旋涂的规整聚(3-己基噻吩)薄膜的线性吸收光谱，以直接探测薄膜微观结构及其对加工条件的依赖性。我们使用弱相互作用的H-聚集体模型定量估计了激子带宽和薄膜中聚集体的百分比。这提供了薄膜内微晶程度和质量的描述，并进而与薄膜场效应晶体管特性相关联。

关键词

激子带宽薄膜微观结构聚噻吩线性吸收光谱 H-聚集体模型规整聚(3-己基噻吩) 薄膜晶体管

引用

@article{arxiv.0903.1670,
  title  = {Determining exciton bandwidth and film microstructure in polythiophene films using linear absorption spectroscopy},
  author = {Jenny Clark and Jui-Fen Chang and Frank C. Spano and Richard H. Friend and Carlos Silva},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0903.1670},
  year   = {2010}
}

备注

Applied Physics Letters (in press); 9 pages, three figures