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实验室光源用于液面薄膜 X 射线反射测量的前景

软凝聚态物质 2020-04-16 v1

摘要

作者综述了在气-液界面(水、碱溶液和硅水溶胶)上宏观平面薄膜结构的系统性研究。所考量工作的一个共同特征是采用模型无关方法分析 X 射线反射测量数据,该方法不需要关于研究对象结构的先验假设。结果表明,在某些情况下,使用实验室光源获得的实验结果与使用同步辐射光源获得的结果在定性上相当。展示了硅纳米颗粒胶体溶液表面两亲性有机分子(磷脂)薄膜中自发有序效应的可重复性。还讨论了通过用碱金属离子富集液体基底来影响磷脂薄膜原位形成动力学的可能性。

关键词

引用

@article{arxiv.2004.07164,
  title  = {Prospects for the Use of Laboratory Sources for X-ray Reflectometry of Thin Films on a Liquid Surface},
  author = {Viktor E. Asadchikov and Yuri O. Volkov and Alexander D. Nuzhdin and Boris S. Roshchin and Aleksey M. Tikhonov},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2004.07164},
  year   = {2020}
}

备注

5 pages, 5 figures