反射基底上薄膜中的荧光相关光谱作为研究软物质界面纳米尺度结构与动力学的方法

软物质界面的结构和动力学在自然和技术应用中起着重要作用。光学单分子研究是非侵入性的，能够揭示纳米尺度的异质性。在这项工作中，我们开发了一种自相关函数(ACF)方法，以从反射基底上薄液膜中的荧光相关光谱(FCS)实验获取示踪剂扩散参数。然后该方法用于研究具有五种不同的氧化物厚度的硅片上100 nm厚的8CB液晶膜中的结构和动力学。我们发现对于薄和厚氧化物，8CB在固液界面的结构重取向具有不同的延伸。对于薄氧化物，苝二酰亚胺示踪剂扩散动力学通常与使用无滑移边界条件的流体动力学建模一致，仅在靠近基底处有微小偏差，而对于厚氧化物则发现界面示踪剂扩散显著更强地降低。