暗场 X 射线显微图像中尺度特征多分辨率分析的一般方法
材料科学
2022-10-31 v1
摘要
暗场 X 射线显微镜利用布拉格衍射收集有序材料“中尺度”结构的全场 X 射线图像。有关结构异质性和其物理含义的信息通过这些图像的定量分析获得。即，必须能够提取由晶格调制或不均匀性产生的衍射特征，量化所述特征，并在后续图像中识别并追踪相关定量属性中的模式。由于需要追踪具有广泛形状和长度尺度的特征同时保持空间分辨率，小波变换被选为一种有力的信号分析工具。除处理多长度尺度外，该方法可与其他信号处理方法（如图像二值化）结合使用以增强功能。在本文中，我们展示了小波分析在 DFXM 中的三种有效应用。我们展示了如何提取并追踪平滑线性特征——即孪晶界的衍射表现——随样品绕动量转移旋转时取向的变化。其次，我们表明即便最简单的小波变换（Haar 变换）也可用于捕获 DFXM 图像中的主要特征，在单幅图像内不同感兴趣区域的一系列长度尺度上实现局部重建。作为最终应用，我们将这些技术扩展用于判定 DFXM 图像是否对焦。
引用
@article{arxiv.2210.15757,
title = {A general method for multiresolutional analysis of mesoscale features in dark-field x-ray microscopy images},
author = {Omar Abulshohoud and Ishwor Poudyal and Jessica McChesney and Zhan Zhang and Zhi Qiao and Ulrich Welp and Zahir Islam},
journal= {arXiv preprint arXiv:2210.15757},
year = {2022}
}