基于X射线自由电子激光的暗场X射线显微镜
材料科学
2021-11-03 v1
摘要
暗场X射线显微镜（DFXM）是一种无损的全场成像技术，可对深埋晶体元素内的微观结构和局部应变场进行三维映射。这是通过在衍射光束中放置一个物镜，获得放大的投影图像来实现的。迄今为止，该方法已以毫秒至小时的时间分辨率得到应用。在这项工作中，我们考虑了使用X射线自由电子激光源和泵浦-探测方案在皮秒时间尺度上实现DFXM的可行性。我们将热机械应变波模拟与几何光学和波前传播光学相结合，模拟了金刚石单晶中声子动力学的DFXM图像。以直线加速器相干光源（LCLS）的XCS仪器的规格为例，得到的模拟DFXM图像清晰地显示了应变波的传播。
引用
@article{arxiv.2111.01545,
title = {X-ray Free Electron Laser based Dark-Field X-ray Microscopy},
author = {Theodor Secanell Holstad and Trygve Magnus Raeder and Mads Allerup Carlsen and Erik Bergback Knudsen and Leora Dresselhaus-Marais and Kristoffer Haldrup and Hugh Simons and Martin Meedom Nielsen and Henning Friis Poulsen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2111.01545},
year = {2021}
}