液氦温度以下的暗场X射线显微术：以NaMnO2为例
材料科学
2024-08-19 v1
摘要
暗场X射线显微术（DFXM）是一种利用同步辐射光源的硬X射线以体敏感方式探测材料“介观”或微尺度结构来研究材料性质的实验技术。然而，将该技术应用于考察量子材料中的低温现象仍具挑战，这类材料在低温下呈现复杂相变。NaMnO2即这样一种材料，其在45 K处发生反铁磁相变，并疑似伴随从其主要单斜相到纳米级三斜畴的局域结构转变。在NaMnO2中直接观测低温下的局域异质性与该效应是理解此材料的重要一步，并作为拓展DFXM实验设计空间的理想候选研究。本文详述了一项基础性的高分辨率DFXM研究，其温度低至并低于液氦温度，旨在探索NaMnO2中的相变。所述实验开启了利用该技术评估其他功能材料在低温下的表现。
引用
@article{arxiv.2211.09247,
title = {Dark Field X-ray Microscopy Below Liquid-Helium Temperature: The Case of NaMnO2},
author = {Jayden Plumb and Ishwor Poudyal and Rebecca L. Dally and Samantha Daly and Stephen D. Wilson and Zahir Islam},
journal= {arXiv preprint arXiv:2211.09247},
year = {2024}
}
备注
9 pages, 7 figures