泵浦-探测暗场 X 射线显微术
材料科学
2022-11-15 v3 光学
摘要
在先进光子源（APS）上利用纳秒驱动激光脉冲与混合模式 X 射线探测脉冲开展了泵浦-探测暗场 X 射线显微术（DFXM）实验。我们观测到锗单晶中由激光诱导热扩散引起的热衰减，其与理论预测相符。单脉冲 DFXM 成像与激光泵浦 X 射线探测方法相结合，可实时揭示由激光诱导晶格形变“在线”产生的热应变形成与声波传播。这将为亚纳秒时间尺度下固体中激光诱导动态现象的材料研究开辟新途径。
引用
@article{arxiv.2210.06243,
title = {Pump-probe Dark-field X-ray Microscopy},
author = {Ishwor Poudyal and Zhi Qiao and Arndt Last and Michael R. Armstrong and Zahir Islam},
journal= {arXiv preprint arXiv:2210.06243},
year = {2022}
}
备注
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