利用宽带铁磁共振展示导电薄膜中的磁化钉扎
材料科学
2015-05-19 v1
摘要
宽带微带铁磁共振技术已被应用于薄膜样品中磁不均匀性的检测与表征。对于100纳米厚的坡莫合金薄膜，检测并表征了一个额外的磁性耗尽顶层子层，该子层在传统的铁磁共振装置中几乎无法识别。这些结果已通过布里渊光散射光谱学得到证实，揭示了该额外子层的光学性质与薄膜主体部分相差不大。随后，使用相同的铁磁共振技术对大量其他假定为单层的、厚度在30-100纳米范围内的薄膜进行表征，也揭示了相同的效应。
引用
@article{arxiv.1006.0331,
title = {Magnetization pinning in conducting films demonstrated using broadband ferromagnetic resonance},
author = {M. Kostylev and A. A. Stashkevich and A. O. Adeyeye and C. Shakespeare and N. Kostylev and N. Ross and K. Kennewell and R. Magaraggia and Y. Roussigné and R. L. Stamps},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.0331},
year = {2015}
}