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多晶 Fe_{1-x}V_x 合金薄膜的铁磁共振研究

介观与纳米尺度物理 2009-11-13 v2 材料科学

摘要

铁磁共振已被用于研究 0x<0.70\leq x < 0.7 的多晶 Fe1x_{1-x}Vx_{x}合金薄膜的磁性和磁化动力学。薄膜通过从独立的 Fe 和 V 靶共溅射制备,导致 Si 衬底上形成成分梯度。FMR 研究在室温下使用宽带共面波导进行,频率高达 50 GHz,采用倒装芯片方法。有效退磁场 4πMeff4 \pi M_{\mathrm{eff}}和 Gilbert 阻尼参数 α\alpha已确定为 V 浓度的函数。将结果与外延 FeV 薄膜的结果进行了比较。

关键词

引用

@article{arxiv.0710.2826,
  title  = {Ferromagnetic resonance study of polycrystalline Fe_{1-x}V_x alloy thin films},
  author = {J-M. L. Beaujour and A. D. Kent and J. Z. Sun},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0710.2826},
  year   = {2009}
}