单个亚微米尺寸样品的铁磁共振力谱
材料科学
2009-11-13 v1
摘要
我们回顾了如何应用磁共振力显微镜 (MRFM) 对\emph{单个}亚微米尺寸样品进行铁磁共振 (FMR) 谱分析。我们将注意力限制在对从同一 43.3 nm 薄膜图案化的坡莫合金 (Py) 圆盘中激发的自旋波本征模式的彻底研究上。圆盘的直径为 1.0 或 m，并在垂直施加的磁场下处于准饱和状态。研究表明，可以从 MRFM 测量中提取\emph{定量}的光谱信息。特别是，将数据与动态磁化率的互补近似模型进行了广泛比较：i) 一个二维解析模型，假设沿厚度方向的磁化动力学是均匀的；ii) 一个完整的三维微磁模拟，假设在特征长度尺度 以下的磁化动力学是均匀的，并通过侧向尺寸 nm 的规则立方网格离散化表示来近似圆柱体样品体积。在我们的分析中，考虑了由于轴向对称性破缺引起的畸变，两种模型都纳入了外加磁场与圆盘法线之间可能存在微小错位的可能性。
引用
@article{arxiv.0806.4244,
title = {Ferromagnetic resonance force spectroscopy of individual sub-micron size samples},
author = {Olivier Klein and G. De Loubens and V. V. Naletov and F. Boust and T. Guillet and Hervé Hurdequint and A. Leksikov and Andrei Slavin and V. S. Tiberkevich and N. Vukadinovic},
journal= {arXiv preprint arXiv:0806.4244},
year = {2009}
}