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C掺杂Mn5Ge3中的铁磁共振与磁阻尼

材料科学 2016-03-02 v1 介观与纳米尺度物理

摘要

利用铁磁共振(FMR)研究了生长在Ge(111)上的碳掺杂Mn5Ge3(C0.1_{0.1}和C0.2_{0.2})薄膜的静态和动态磁性。磁各向异性的温度依赖性显示,由于大的形状贡献,在80K时垂直磁晶贡献增加且易轴位于面内。我们发现样品显示出较小的FMR线宽(对应于本征磁阻尼参数 α\alpha=0.005),这是自旋弛豫的度量,并与材料的磁性和结构质量直接相关。在垂直平面几何下,所有样品的FMR线宽在约200K处呈现最小值,这似乎与C掺杂无关。已确定磁弛豫参数,并指出双磁子散射是主要的外在贡献。我们观察到在低温下Mn5Ge3C0.2中来自散射中心的主要贡献发生变化,这可能与线宽最小值有关。

关键词

引用

@article{arxiv.1603.00190,
  title  = {Ferromagnetic resonance and magnetic damping in C-doped Mn5Ge3},
  author = {C-E Dutoit and V. O. Dolocan and M. D. Kuz'min and L. Michez and M. Petit and V. Le Thanh and B. Pigeau and S. Bertaina},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1603.00190},
  year   = {2016}
}