磁矩单层的近邻磁测量
介观与纳米尺度物理
2012-06-07 v1 材料科学
摘要
我们提出了一种测量磁性材料单层和超薄膜磁性质的方法。该方法基于低能μ子自旋旋转和β探测核磁共振测量。通过将自旋探针植入磁性材料下方的衬底中，将其用作“近邻”磁强计。我们计算了探针所感知的预期磁场分布，并讨论了其温度和植入深度的依赖性。该方法非常适合测量单分子磁体单层的磁性质，但也可以扩展到超薄磁性薄膜。
引用
@article{arxiv.1108.1990,
title = {Proximal magnetometry of monolayers of magnetic moments},
author = {Z. Salman and S. J. Blundell},
journal= {arXiv preprint arXiv:1108.1990},
year = {2012}
}
备注
To be published in the proceedings of 12th International Conference on Muon Spin Rotation, Relaxation and Resonance