原子芯片的扫描磁阻显微术
原子物理
2009-11-13 v1
摘要
基于微加工导线或图案化磁性薄膜的表面几何结构可用于磁俘获和操控超冷中性原子或玻色-爱因斯坦凝聚体。我们使用具有高空间分辨率和高磁场灵敏度的扫描磁阻(MR)显微镜研究此类原子芯片的磁学性质。我们表明，MR传感器非常适合观测由导线或磁性材料缺陷引起的磁场微小变化，这些缺陷最终导致超冷原子云碎裂。我们还提供了具有沿边缘小几何调制的薄载流导线所产生磁场的测量结果。我们的测量与导线中电流流动的完整数值计算及其后续磁场的比较显示出极好的一致性。我们的结果凸显了扫描MR显微术作为一种便捷而强大的技术，用于精确表征原子芯片表面附近所产生磁场的应用价值。
引用
@article{arxiv.0704.3137,
title = {Scanning magnetoresistance microscopy of atom chips},
author = {M. Volk and S. Whitlock and B. V. Hall and A. I. Sidorov},
journal= {arXiv preprint arXiv:0704.3137},
year = {2009}
}
评论
6 pages, 6 figures