2+1维系统中拓扑缺陷：来自3+1维 Bulk 中的线激发
强关联电子
2024-07-03 v1 高能物理 - 理论
量子物理
摘要
拓扑相的 bulk-边界对应关系表明，d+1维 bulk 中的拓扑特征与 (d-1)+1维边界上潜在的无能带理论之间存在密切联系。在2+1维拓扑相中，bulk 中的任意子激发与边界1+1维共形场论中的拓扑点缺陷/原场之间可以存在直接对应关系。本文研究了3+1维拓扑相中的线激发如何通过拓扑全息/对称性拓扑场论框架，转化为边界2+1维理论中的线缺陷。我们强调“后代”线激发的重要性，特别演示了Majorana链缺陷的效果：它导致3+1维费米Z₂拓扑秩序的一种环化简化Gapped边界态，并在描述两种环化简化边界态过渡的2+1维Majorana-锥临界理论中留下特征征迹象。还讨论了如Cheshire字符串等非可逆线激发在费米3+1维拓扑相及相应2+1维临界点中的作用。
引用
@article{arxiv.2407.02488,
title = {Topological defects of 2+1D systems from line excitations in 3+1D bulk},
author = {Wenjie Ji and Xie Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.02488},
year = {2024}
}
备注
19 pages, 13 figures. Comments are welcome