利用激光束测试小间距SOI像素探测器
仪器与探测器
2016-08-03 v2 高能物理 - 实验
摘要
一种基于SOI（绝缘体上硅）技术开发、间距尺寸为19x19 μm的硅像素探测器，在红外激光脉冲照射下进行了测试。作为粒子束测试的替代方法，将激光脉冲调谐至极短持续时间和极小横向轮廓，以模拟硅中MIPs（最小电离粒子）的轨迹。使用垂直于探测器表面传播并通过SOI探测器的聚焦激光脉冲测量了击中簇尺寸，发现大部分感应电荷被收集在种子像素内。首次测量了该SOI探测器的信号幅度随外加偏压的变化关系，加深了对耗尽特性的理解。
引用
@article{arxiv.1503.01106,
title = {Test of a fine pitch SOI pixel detector with laser beam},
author = {Yi Liu and Yunpeng Lu and Xudong Ju and Qun Ouyang},
journal= {arXiv preprint arXiv:1503.01106},
year = {2016}
}