通过布儒斯特折射仪测量纳米级厚度薄膜的折射率
光学
2015-04-17 v1
摘要
研究表明，布儒斯特角下的反射激光折射仪可用于精确测量纳米级厚度各种薄膜在透明带内的折射率 (RI)。作为初步尝试，已对基于正硅酸钆和石英的纳米级多孔薄膜进行了 RI 测量。研究表明，与此类薄膜中纳米级孔隙团簇相关的表面光散射会降低布儒斯特角下 RI 测量的准确性。在 (20-160)nm 范围内，由薄膜厚度减小（3D-2D 转变）引起的估计物理依赖性 RI 未被检测到。
引用
@article{arxiv.1504.04262,
title = {Refractive index of nanoscale thickness films measured by Brewster refractometry},
author = {E. A. Tikhonov and A. K. Lyamets and Yu. V. Malyukin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1504.04262},
year = {2015}
}
备注
9 pages, 4 figures