基于布儒斯特角测定多种材料的折射率
光学
2015-10-26 v1
摘要
实验研究了布儒斯特角处p偏振辐射（TM）非零反射的起源。结果表明，布儒斯特角附近的残余反射光是由于入射线偏振辐射无法达到100%偏振度以及零方位角安装等因素造成的。这些因素确实产生了从被研究表面反射的光的s分量。在布儒斯特角附近，反射光偏振度按p-s-p的顺序平滑变化，这是由于反射p分量和s分量功率比例的变化所致，而非根据Drude模型在材料/环境边界处存在的原子级薄过渡层所致。通过布儒斯特角测量折射率的计量学方面得到了研究：由于上述因素，以及由光学表面残余粗糙度引起的散射反射光的贡献，展示了布儒斯特折射测量法对任何材料和薄膜的优势，且不受样品拓扑结构及其光散射和吸收的限制。
引用
@article{arxiv.1510.06850,
title = {Determination of refractive index of various materials on Brewster angle},
author = {Eugene A. Tikhonov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1510.06850},
year = {2015}
}
备注
13 pages, 9 figures