用于完整刻画位错趋肤效应的实空间拓扑定域子指数

位错趋肤效应展现了拓扑缺陷在二维非厄米系统中局域大量模式的能力。类似于由系统边界引起的相应趋肤效应，该现象同样源于非平凡拓扑。然而，寻找位错趋肤效应与非零拓扑不变量之间的关系，尤其在无序系统中，可能是模糊且困难的。在此，我们引入一种基于谱定域子的实空间拓扑不变量，以刻画二维晶格上的趋肤效应。我们证明该不变量一致地预测边界与位错趋肤效应的发生及位置，提供了一种适用于有序与无序系统的统一方法。我们的工作展示了一种通用方法，可用于诊断各类趋肤效应的拓扑本质，特别是在不存在平移对称性、动量空间描述不适用时。