关于单次测量下多边形嵌入逆导电问题的稳定性
偏微分方程分析
2026-05-19 v1
摘要
本文研究了从单一边界测量中确定嵌入在均匀各向同性介质中的凸多边形嵌入的逆导电问题的稳定性。我们分析中的主要工具是非光滑域中椭圆方程的奇点分解、小传播性质和亚微局部分析。将这些工具结合起来，我们建立了一个以测量误差为界的嵌入之间 Hausdorff 距离的对数稳定性估计。
引用
@article{arxiv.2605.17484,
title = {On the Stability of Inverse Conductivity Problem for Polyhedral Inclusions under a Single Measurement},
author = {Chun-Hsiang Tsou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2605.17484},
year = {2026}
}
备注
22 pages, 3 figures