光子反常弗洛凯拓扑绝缘体的观测
光学
2017-02-01 v1
摘要
通常，二维拓扑绝缘体由其能带结构相关的非零陈数来表征。在我们的工作中，我们展示了一种反常拓扑绝缘体的实验演示，其陈数始终为零，而卷绕数是描述该系统拓扑特性的恰当物理量。我们探究了此类反常拓扑绝缘体中手性边缘态的鲁棒性，并分析了拓扑相与平庸相之间的相变。
引用
@article{arxiv.1605.03877,
title = {Observation of photonic anomalous Floquet Topological Insulators},
author = {Lukas J. Maczewsky and Julia M. Zeuner and Stefan Nolte and Alexander Szameit},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.03877},
year = {2017}
}