非厄米系统中NHSE驱动的拓扑缺陷态聚并

在这项工作中，我们描述了一种新颖的局域化现象，即所谓的拓扑缺陷积累，它发生在具有任意数量缺陷位点的非厄米链中。具体来说，它指的是多个缺陷本征态在最靠近体非厄米趋肤模式局域化边缘的单个缺陷位点处的局域化和聚并。这种现象不同于厄米系统中的传统拓扑缺陷态，在厄米系统中，缺陷态分别局域在它们各自的缺陷位点上。拓扑缺陷积累发生的条件是非互易耦合（使链变为非厄米）以及缺陷节点处的虚数在位能。这使得缺陷态的积累和分布能够由缺陷位点分布及其相应的在位能共同调制，为可能的应用铺平了道路。此外，这种现象可以在各种合成和实验可实现的平台中实现，例如拓扑电路和光子学系统。