利用线性采样法对局部粗糙界面及埋藏障碍物进行近场成像
偏微分方程分析
2020-09-02 v1
摘要
考虑时谐点源从无限、可穿透粗糙界面散射且下方半空间埋有有界障碍物的反散射问题，其中界面假设为平面表面的局部扰动。提出了一种新颖的采样方法，通过构造与特殊粗糙表面相关联的修正近场方程，同时重建粗糙界面的局部扰动和埋藏障碍物，从而得到一种快速成像算法。给出了数值算例以说明该反演算法的有效性。
引用
@article{arxiv.2009.00379,
title = {Near-field imaging of a locally rough interface and buried obstacles with the linear sampling method},
author = {Jianliang Li and Jiaqing Yang and Bo Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.00379},
year = {2020}
}
备注
23 pages, 25 figures