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双谐波散射逆问题的直接成像方法:带相位信息与无相位信息数据

偏微分方程分析 2026-05-12 v1

摘要

本文研究了基于带相位信息和无相位信息测量数据的双谐波散射问题,以识别障碍物的形状和位置。提出一种基于逆时迁移的直接成像方法,用于重建具有障碍物上四种边界条件之一的扩展障碍物。新开发的成像函数通过仅使用各种测量数据中的一种,包括散射场、其法向导数、弯矩、横向力、远场以及无相位总场。我们的分辨率分析表明,这些成像函数在采样点靠近或远离障碍物边界时具有对比度。进一步的数值实验表明,该算法能够准确重建复杂的散射几何图形,并且对噪声具有良好的鲁棒性。

关键词

引用

@article{arxiv.2505.09495,
  title  = {A direct imaging method for inverse scattering problem of biharmonic wave with phased and phaseless data},
  author = {Tielei Zhu and Zhihao Ge},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2505.09495},
  year   = {2026}
}

备注

23 pages, 77 figures