门控双层石墨烯中狄拉克点的映射
介观与纳米尺度物理
2010-01-23 v1 材料科学
摘要
我们在SiO2上对剥离的双层石墨烯进行了低温扫描隧道谱测量。通过改变背栅电压，我们观察到由于垂直电场导致的狄拉克点线性移动和带隙的打开。除了观察到狄拉克点的移动外，我们还利用空间分辨的扫描隧道谱测量了其空间依赖性。狄拉克点的空间变化与形貌特征不相关，因此我们将其移动归因于随机带电杂质。
引用
@article{arxiv.0910.3720,
title = {Mapping the Dirac point in gated bilayer graphene},
author = {A. Deshpande and W. Bao and Z. Zhao and C. N. Lau and B. J. LeRoy},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.3720},
year = {2010}
}
备注
3 pages, 3 figures