单层与双层石墨中狄拉克点的空间映射
介观与纳米尺度物理
2011-02-02 v1 材料科学
摘要
我们利用低温下的空间分辨扫描隧道谱(STS)测量，对剥离的单层和双层石墨中的狄拉克点进行了空间映射。狄拉克点在石墨不同位置的能量上发生偏移。然而，与形貌的互相关分析未显示出相关性，表明诸如褶皱等形貌特征并非这种变化的主要来源。相反，我们将狄拉克点的偏移归因于位于石墨附近的随机带电杂质。我们的发现强调了需要改进剥离石墨样品的制备工艺，以最小化杂质的影响。
引用
@article{arxiv.0912.0547,
title = {Spatial mapping of the Dirac point in monolayer and bilayer graphene},
author = {A. Deshpande and W. Bao and Z. Zhao and C. N. Lau and B. J. LeRoy},
journal= {arXiv preprint arXiv:0912.0547},
year = {2011}
}
备注
4 pages, 3 figures