多晶MoS$_2$纳米薄膜的开裂
应用物理
2019-12-03 v1 材料科学
摘要
调控二维材料临界应变的可能性对柔性器件制造至关重要。本文利用电子显微镜在微纳尺度研究了具有两种不同晶粒取向的多晶 MoS2 薄膜中的断裂。确定临界单轴应变约为 5%，且与样品形貌无关。然而，发现电子束辐照增强了 MoS2 与 PDMS 基底间的相互作用，导致临界应变增大并可超过 10%。利用这种应变耐受性的增强，制造了长度 1 mm 的力学稳健线阵列。最后，通过透射电子显微镜研究的纳米级裂纹扩展显示，裂纹沿晶界以及穿晶扩展，优先沿范德华键合进行。这些结果增进了对多晶二维材料断裂的理解，并提供了一种利用成熟工具调控临界应变及纳米制造超薄 MoS2 器件的新方法，这将引起柔性电子行业的极大兴趣。
引用
@article{arxiv.1911.10769,
title = {Fracturing of polycrystalline MoS$_2$ nanofilms},
author = {M. Sledzinska and G. Jumbert and M. Placidi and A. Arrighi and P. Xiao and F. Alzina and C. M. Sotomayor Torres},
journal= {arXiv preprint arXiv:1911.10769},
year = {2019}
}