线性端口哈密顿系统的指数衰减率：一种乘子方法
偏微分方程分析
2023-03-17 v1 最优化与控制
摘要
本工作中，乘子方法被推广以获得一维空间带边界耗散的端口哈密顿系统指数衰减率关于物理参数的一般下界。系统的物理参数可随空间变化。表明在边界或内部耗散的假设下，系统是指数稳定的。这通过由一般乘子函数定义的李雅普诺夫函数建立。此外，获得了关于物理参数的衰减率显式界。该方法被应用于若干例子。
引用
@article{arxiv.2303.09382,
title = {Exponential Decay Rate of Linear Port-Hamiltonian Systems. A Multiplier Approach},
author = {Luis A. Mora and Kirsten Morris},
journal= {arXiv preprint arXiv:2303.09382},
year = {2023}
}
备注
7 pages, 2 figures, Submitted to IEEE TAC