Ta2Pd3Te5单层中的激子不稳定性

通过系统理论计算，我们揭示了Ta2Pd3Te5单层中的激子绝缘体(EI)。块体Ta2Pd3Te5是一种范德华(vdW)层状化合物，而vdW层可通过剥离或分子束外延获得。第一性原理计算表明，使用修正的Becke-Johnson泛函，该单层是近乎零带隙的半导体。由于带边态具有相同的对称性，当带隙趋近于零时，二维极化率$\alpha_{2D}$将为有限值，从而允许该化合物中存在EI态。利用第一性原理多体微扰理论，GW加Bethe-Salpeter方程计算表明，激子结合能大于单粒子带隙，表明存在激子不稳定性。计算的声子谱表明该单层是动力学稳定的，没有晶格畸变。我们的发现表明Ta2Pd3Te5单层是一种无结构畸变的激子绝缘体。