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CaCu$_{3}$Ru$_{4}$O$_{12}$薄膜中弱反局域化-弱局域化渡越与金属-绝缘体转变的证据

强关联电子 2021-03-11 v2 介观与纳米尺度物理 材料科学

摘要

通过调节层厚对电子进行人工限域,已成为在复杂氧化物纳米层中控制竞争相的有力工具。我们研究了维度对基于dd电子的重费米子金属CaCu3_{3}Ru4_{4}O12_{12}输运性质的影响。随着厚度减小,输运行为从金属态演变为局域化区,并在膜厚低于3 nm时观察到金属-绝缘体转变,此时方阻跨越h/e225 h/e^{2} \sim 25~kΩ\Omega(二维量子电阻)。磁输运研究表明,随着厚度减小,非弹性散射长度与自旋轨道散射长度之间存在强相互作用,导致磁电导中出现弱反局域化(WAL)到弱局域化(WL)的渡越。

关键词

引用

@article{arxiv.1908.11128,
  title  = {Evidence for weak antilocalization-weak localization crossover and metal-insulator transition in CaCu$_{3}$Ru$_{4}$O$_{12}$ thin films},
  author = {Subhadip Jana and Shwetha G. Bhat and B. C. Behera and L. Patra and P. S. Anil Kumar and B. R. K. Nanda and D. Samal},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1908.11128},
  year   = {2021}
}

备注

10 pages, 4 figures