拓扑绝缘体和超导体的纠缠谱

我们研究了两个先验上无关的结构：具有物理边缘的能带拓扑绝缘体或超导体中的边缘模谱，以及通过纠缠二分法模拟边缘的扩展系统中的基态纠缠谱。我们证明了此类系统的基态纠缠谱与相应谱平坦化哈密顿量的边缘模谱之间的精确关系。特别地，我们展示了纠缠谱的简并对应于无间隙边缘模。