碘掺杂对 Bi$_{2}$Sr$_{2}$Ca$_{1}$Cu$_{2}$O$_{x}$ 的影响：电荷转移还是层间耦合？
凝聚态物理
2016-08-14 v1
摘要
我们使用交流磁化率测量、X 射线光电子能谱（XPS）和角分辨紫外光电子能谱（ARUPS）对碘插层的 BiSrCaCuO 单晶和 1 atm O 退火的 BiSrCaCuO 单晶进行了对比研究。交流磁化率测量表明，所研究的 O 掺杂样品的 T 为 84 K，而碘掺杂样品的 T 为 80 K。XPS Cu 2p 芯能级数据确定这两种样品的 CuO 面内的空穴浓度基本相同。ARUPS 测量表明，费米能级附近的正常态电子结构受到碘插层的强烈影响。我们得出结论，碘掺杂的主要效应是改变层间耦合。
引用
@article{arxiv.cond-mat/9312006,
title = {Effect of Iodine Doping on Bi$_{2}$Sr$_{2}$Ca$_{1}$Cu$_{2}$O$_{x}$: Charge Transfer or Interlayer Coupling?},
author = {Jian Ma and P. Alméras and R. J. Kelley and H. Berger and G. Margaritondo and A. Umezawa and Marvin L. Cohen and M. Onellion},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9312006},
year = {2016}
}
备注
LBL 9 pages, APS_Revtex. 5 Figures, available upon request. UW-Madison preprint