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高温超导体HgBa2CuO4中的掺杂诱导电荷 Redistribution

超导电性 2007-05-23 v1

摘要

为理解掺杂与高温超导体中电子性质之间的关系,我们对单层 cuprate HgBa2_2CuO4+δ_{4+\delta}中氧掺杂效应进行第一性原理计算。通过 supercell 和 single cell virtual crystal type 方法研究掺杂效应。我们发现,在掺杂浓度达到 δ=0.22\delta=0.22之前,掺杂原子呈离子行为。多余的氧原子从 CuO2_2 平面上吸引电子,从而增加该构件中的空穴浓度。当氧的 pp 壳几乎完全填满时,空穴数目最大。因此,费米能级处的态密度在最佳氧含量处呈现明显的最大值。计算得到的掺杂随掺杂浓度变化的空穴含量与实验结果一致。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/0109089,
  title  = {Doping induced charge redistribution in the high temperature superconductor HgBa2CuO4},
  author = {P. Süle and C. Ambrosch-Draxl and H. Auer and E. Y. Sherman},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0109089},
  year   = {2007}
}

备注

4 pages, 4 figures, comments to [email protected]