氧掺杂对 Bi-2223 涡旋物质的影响：从电磁耦合到约瑟夫森层间耦合的交叉
超导电性
2010-08-24 v1
摘要
我们研究了氧掺杂对三层 BiSrCaCuO (Bi-2223) 化合物中临界温度 、涡旋物质相图以及 Cu-O 层间耦合机制性质的影响。与之前的报道相反，在过掺杂 (OD) 区域，我们确实发现 随后退火处理中氧分压的增加而变化。这种变化不如双层母体化合物 Bi-2212 显著，且不遵循通用的 与 的关系。磁测量表明，增加 扩大了布拉格玻璃相的场和温度稳定性。这些发现意味着 Cu-O 层间的层间耦合随 增强。从方向性首次穿透场测量估算的各向异性参数从欠掺杂 (UD) 区域的 50 单调下降至过掺杂 (OD) 区域的 15。然而，面内穿透深度随 呈现回旋镖状行为，在接近最佳掺杂时达到最小值。这两个事实导致在最佳掺杂附近，相邻 Cu-O 层的耦合从约瑟夫森主导 (OD) 交叉为电磁主导 (UD)。
引用
@article{arxiv.0802.2617,
title = {Effect of oxygen-doping on Bi-2223 vortex matter: Crossover from electromagnetic to Josephson interlayer coupling},
author = {A. Piriou and Y. Fasano and E. Giannini and Ø. Fischer},
journal= {arXiv preprint arXiv:0802.2617},
year = {2010}
}