纠缠哈密顿量边缘与体态的不同温度依赖性

我们提出一种基于路径积分表述的虫洞效应的物理图像，用以解释纠缠谱（ES）的机制，使得我们的图像不仅解释了具有能谱与ES体边对应（Li和Haldane猜想）的拓扑态，而且普遍适用于其他与其拓扑性质无关的系统。我们指出，最终决定系统低能ES行为的是体能隙（乘以逆温度$\beta=1/T$）相对于边缘能隙的相对强度。视情况不同，ES可以类似于虚边缘的能谱，也可以代表虚体的能谱。我们设计了1维和2维的模型，成功展示了有限温度下的类体低能ES，此外还有Li和Haldane在零温下猜想的类边缘情形。我们的结果支持了将ES视为路径积分中的虫洞效应以及ES边缘与体具有不同温度依赖性的普适性。