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关联效应对拓扑晶体绝缘体的影响

强关联电子 2015-08-11 v2

摘要

我们研究了在二维和三维空间中由时间反演(TT)和反射对称(RR)保护的拓扑晶体绝缘体上的相互作用效应。通过对边缘态进行玻色化稳定性分析,我们发现受 Z2×[\mboxU(1)T]Z_2\times[\mbox{U(1)}\rtimes T] 对称保护的二维 SPT 相的分类被相互作用从 Z\mathbb{Z} 降为 Z4\mathbb{Z}_4,其中 Z2Z_2 对称表示镜面为二维平面本身的反射。通过推广 Isobe 和 Fu 最近提出的方法,我们证明了受 R×[\mboxU(1)T]R\times[\mbox{U(1)}\rtimes T] 对称保护的三维 SPT 相(即拓扑晶体绝缘体)的分类被相互作用从 Z\mathbb{Z} 降为 Z8\mathbb{Z}_8

关键词

引用

@article{arxiv.1505.06598,
  title  = {Correlation effects on topological crystalline insulators},
  author = {Tsuneya Yoshida and Akira Furusaki},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1505.06598},
  year   = {2015}
}

备注

9 pages, 1 figures, v2: typos corrected