对“Floquet 分数量子陈绝缘体”的评论
强关联电子
2014-12-12 v1 统计力学
摘要
在最近的一篇论文 [Phys. Rev. Lett. 112 156801 (2014)] 中,Grushin 等人研究了一个位于蜂窝晶格上、与外部极化电场耦合的自旋电子费米-哈伯德模型。通过微扰计算 Floquet 哈密顿量至 阶(其中 是驱动频率),他们预测,对于特定的驱动和填充值,系统可以转变为分数量子陈绝缘体。在这篇评论中,我们指出:i) Floquet 哈密顿量的计算遗漏了一些 阶的项;ii) Floquet 能带像时间无关系统中那样被填充的假设是值得商榷的。
引用
@article{arxiv.1412.3481,
title = {Comment on "Floquet Fractional Chern Insulators"},
author = {Luca D'Alessio},
journal= {arXiv preprint arXiv:1412.3481},
year = {2014}
}
备注
Comment to arXiv:1309.3571 [cond-mat.str-el]. 1 + epsilon pages