Scifaro

中文

光滑测度的分类与度量化

概率论 2026-05-08 v1 泛函分析

作者: Takumu Ooi , Kaneharu Tsuchida , Toshihiro Uemura

在 arXiv 上查看 ↗ PDF ↗

摘要

我们从稠密性和局部性的角度对平滑测度的若干类进行分类，并考察它们之间的关系，特别是Kato类与能量积分有限的Radon测度。我们还在Dynkin类上引入Miyadera度量，并获得了Revuz对应关系的连续性。

关键词

光滑测度 Kato类 Radon测度能量积分 Miyadera度量

引用

@article{arxiv.2605.05864,
  title  = {Classification and Metrization of Classes of Smooth measures},
  author = {Takumu Ooi and Kaneharu Tsuchida and Toshihiro Uemura},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2605.05864},
  year   = {2026}
}

备注

36 pages